T-Scan 10, una nuova soluzione laser per la metrologia industriale

QFP amplia la propria offerta di soluzioni per la metrologia industriale con una nuova soluzione ZEISS, di cui è distributore ufficiale per l’Italia fin dal 2002: T-Scan 10.

Le soluzioni della gamma T-Scan sono sistemi di scansione e misura che implementano la tecnologia laser per una metrologia senza contatto precisa, rapida ed efficiente.

T-Scan 10 va invece ad aggiungere un ulteriore tassello volumetrico alla gamma T-Scan. La gamma T-Scan espande il concetto modulare all-in-one, che comprende componenti perfettamente abbinati (tracking camera, scanner portatile e touch probe) e offre la massima flessibilità per un’ampia gamma di applicazioni garantendo una precisione certificata secondo DIN EN ISO 10360.

Il T-Scan 10 è in grado di scansionare oggetti fino a 10 metri cubi di volume offrendo gli stessi vantaggi delle altre soluzioni T-Scan: efficace anche su superfici non collaborative (plastica nera, lamiera lucida, fibra di carbonio) anche in assenza di preparazione con opacizzante e marker. Reportistica rapida, ergonomia e semplicità di utilizzo con una potenza di scansione fino a 210.000 punti e 330 frames per secondo sono le sue principali caratteristiche.

«Siamo particolarmente soddisfatti di questa new entry – commenta Roberto Mazzetto, direttore Sales e Marketing di QFP. Si tratta di una soluzione particolarmente innovativa e in grado di semplificare i processi metrologici in molti settori industriali. T-Scan 10 può fornire un contributo importante in termini di riduzione del tempo ciclo dedicato al controllo dimensionale: semplifica e velocizza le operazioni di misura, non richiede preparazione preventiva delle superfici, è ergonomico e trova applicazione tanto in sala metrologica quanto in ambiente produttivo. È inoltre utilizzabile tanto in processi di controllo qualità quanto in attività di reverse engineering, il che lo rende particolarmente flessibile e pronto a coprire diverse fasi del processo di realizzazione di un prodotto».

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